因应5G及车联网的高资料量高速传输，相关电子产品(PCB/电子元件/半导体)需要进行较快速较大电流的量测手法，VMR-F能够在60秒裡高速量测400轨样品的銲点、接合度可靠性，并且结合环境试验[定点温度、高温高湿DH、高低温冷热冲击TST、高低温快速温度循环TCT、高度加速寿命试验HAST]..等各种可靠度试验方式，快速有效分析接点强度与信赖性。
产品特点
-
- Laboratory Class：
- 超越国际标准高速多轨扫瞄式量测(60sec/per 400ch)
- Laboratory Class：
-
- 可执行温度循环、温度冲击及定点量测：
- 搭配温度循环机、温度冲击机、HAST、高低温试验箱、震动台进行测试整合，最多2台
- 可执行温度循环、温度冲击及定点量测：
-
- 可设定失效上限、下限电阻值与失效变化率：
- 可依据规范或是待测品特性指定极限值比对点。
- 可设定失效上限、下限电阻值与失效变化率：
-
- 测试过程环境试验设备温湿度与量测同步合併纪录与分析：
- 于同一视窗可直接观看温度冲击或温度循环及阻值的纪录曲线。
- 测试过程环境试验设备温湿度与量测同步合併纪录与分析：
-
- 电阻变化率判定方式:冷热冲击、快速温变
- 电阻变化率Change Rate(%):以指定循环的电阻值为基准点，分别设定高温电阻变化率及低温电阻变化率，当超出变化率限制时加以标记。
- 电阻变化率判定方式:冷热冲击、快速温变
-
- 三种语系操作界面：
- 简、中、英三种显示语系切换
- 三种语系操作界面：
规格表
